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JMF661固态硬盘开卡堆栈法实现RDT坏块计数屏蔽增量坏块教程

2018-11-14 22:01 来源: 本站整理 作者:hahaboy_007 浏览量:169次

   都知道JMF661方案的固态硬盘不管什么品牌的都不太好,因为它会在放一段时间后出现坏块,那么这个问题怎么解决呢?下面就教大家

   因为如果不通过RDT开卡将增量坏块屏蔽补漏,用不了多久在原有的地方会再次出现“漏点”造成数据不完整,ADATA,SATA3-64G为例给大家解决,ssd开卡工具是Utility A.1.48
  1、下图的初始坏块数是88跟44,实验盘放置2周后,不稳定的老化块会漏电“蒸发”电子,我们运行老化软件发现不能通过测试


 



    2、同时再去检查坏块计数有所增加


   3、总的出现了4个坏块,系统的ECC效验能力只能纠出2个坏块,显示最后2处ECC faied的就说明超过的主控的处理能力,丢没丢数据呢?答案是肯定的
 

   4、如果数据在图中的位置,肯定缺失不完整,当然后人看了此图会嚷到用“安全擦除”,实话告诉你安全擦除是无用的,无非是在陷阱上面盖张席子,没有把基本问题解决,丢数据就无时无刻不在。
 



   5、重点来了——堆栈法开卡,也就是通过多次开卡把漏电块过滤,开卡软件大部分test都是一下就过(每款开卡软件过程不会超过10分钟),除了完全坏的死点能分辨出,快速漏电块是没法以开卡时候就可以排查出来!所以必须接续一个连续的表来登记不良的块,为了要达到堆栈的效果,就要重复开卡不删除分区(可能有人说不删除分区开卡会报错,报错就报错),直接以factory+newBB,直到下图R/W测试报错。

 


   6、然后拔出盘,我研究N次,(正常的开卡方式是要删除分区再开卡)如果按正常开卡方式,删掉分区的时候坏块映射关系消失,反而让它溜掉了!!!更惨的是之前堆栈记录了多次的表被初始化了,无法接续,此盘最高被我堆栈开卡记录最高300多块稳定运行了一年,后面手欠开卡实验清空了,又走慢慢堆栈之路。


   7、如图堆栈开卡以后(由第一幅图演化来的,可以对比一下数据),出厂坏块又88增加为96,初始坏块由44增加到48。由此完成了SSD一个RDT循环,下图是验证一下老化,通过。
 

   8、再补一下课:就是为啥颗粒每个块的寿命不一样?我是看到有关的文章这么说的,存储半导体的生产是一个物理过程,晶体管的好坏在每个单位在结晶的时候就是不一样的,在同一个面上都有个体差异,有的能用1000多PE有个能用上万PE。你也可以理解为泥活字印刷,一片文章排版有很多字块,有的字块寿命有长有的短,所以印刷过程中还要剔除坏字块换掉,通过ECC效验也就是说通过印刷的差异排查坏字,那么开卡就相当于重新排版剔除坏字。

  到此坏块产生问题就基本解决了,总的来说JMF661主控的ssd是不建议购买的,质量的确很差,大家买来ssd后用SSD-Z检测工具看看主控,别买到此主控就行。


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